源表测电阻四线法
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源表测电阻四线法
电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况，需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是较常用的方法。
普赛斯仪表S型源表能四线法测电阻吗？对线缆要求？
①可以的，使用其四线测量模式；
②四探针测试时一般是恒流测电压，而所加的电流一般在mA级，所以对线缆基本没有要求
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