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半导体材料IV性能分析仪表
半导体材料IV性能分析仪表认准生产厂家普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯S型数字源表国产自主研发，厂家直销！性价比高，测试范围更广，输出电压高达300V，支持USB存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比面议2024-12-16 -
多通道源表之miniled芯片LIV测试
源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求，只是差别在于输出范围、测量精度、速度、通道数不同。 对于早期应用最为广泛的2400源表，国内早已推出对标产面议2024-12-16 -
半导体芯片IV性能测试仪表
半导体芯片IV性能测试仪表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯仪表S型数字源表国产自主研发，单通道，不支持脉冲输出，触摸屏操作，支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持USB存储，一键导出面议2024-12-16 -
宽禁带器件测试高电压大电流源
GaN HEMT器件性能的评估，一般包含静态参数测试（I-V测试）、频率特性（小信号S参数测试）、功率特性（Load-Pull测试）。静态参数，也被称作直流参数，是用来评估半导体器件性能的基础测试，也是器件使用的重要依据。以阈值电压Vgs（th）为例，其值的大小对研发人员设计器面议2024-12-16 -
大功率led管liv测试电源
普赛斯仪表hcpl系列大功率led管liv测试电源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。驱动电源通过RS485接口控制，上位机设定输出电流，并可读出实际输出值; 另外还可以一主多从的方式多台串并联，上位机只需控制主机，从机面议2024-12-16 -
宽禁带材料电性能分析数字源表
宽禁带材料电性能分析数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯S系列、P系列源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，普赛斯仪表是手家国产数字源表生产厂家，产品已经历3年迭代完善，对标2400、2450、2611、2601B、2面议2024-12-16 -
光电器件特性参数分析数字源表
光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成Z终的特性分析和分拣操作;光电探测器在工作时,需要施加反向偏置电压来拉开光注入产生的电子空穴对,从而完成光生载流子过程,因此光电探测器通常在反向状态工作;测试时比较关注暗电流、反向击穿电压、结电面议2024-12-16 -
光伏组件PID测试用源表
光伏组件PID测试所需主要仪器为： 步入式环境测试箱； 绝缘耐压测试仪； 接地连续性测试仪； PID测试直流电压源（数字源表）； HALM太阳模拟器（AAA+级）； EL测试仪等。 测试所需电源需求 电源电压：-1500V～0V/ 0～+1500V 电源时漂：≤0.3%/h面议2024-12-16 -
光电二极管性能测试精密源表
光电探测器光电测试 光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成Z终的特性分析和分拣操作;光电探测器在工作时,需要施加反向偏置电压来拉开光注入产生的电子空穴对,从而完成光生载流子过程,因此光电探测器通常在反向状态工作;测试时比较关面议2024-12-16 -
半导体激光器参数测试设备激光器老化测试系统
普赛斯半导体激光器参数测试设备激光器老化测试系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定面议2024-12-16 -
数字源表之光伏组件PID测试
PID测试仪器组成 测试所需主要仪器为： 步入式环境测试箱； 绝缘耐压测试仪； 接地连续性测试仪； PID测试直流电压源（数字源表）； HALM太阳模拟器（AAA+级）； EL测试仪等。 测试所需电源需求 电源电压：-1500V～0V/ 0～+1500V 电源时漂：≤0.面议2024-12-16 -
LDO电性能测试用数字源表
LDO常用的电性能参数测试，主要包括输出电压、输入输出电压差、线性调整率、负载调整率、静态电流等。由于LDO的测试需要分别采集输入与输出端的数据，因此一般情况下，测试系统至少需要配置2台SMU，并采用上位机软件(PssSMUTools)进行控制。 普赛斯S系列高精度数字源表，面议2024-12-16 -
半导体器件测试仪IV曲线仪
半导体器件测试仪IV曲线仪认准普赛斯仪表，详询18140663476；普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案 S型数字源表应用优势： 1、多功能面议2024-12-16 -
SMU电流模块
SMU电流模块认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案;详询一八一四零六六三四七六； S型数字源表应用优势： 1、多功能面议2024-12-16 -
半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表
半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表找普赛斯仪表，普赛斯数字源表国产自主研发，对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高至300V，电流低至10pA；支持USB存储，一键导出数据报告；5寸触摸显示屏面议2024-12-16 -
精密电流源直流源表
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%面议2024-12-16 -
功率模块igbt测试设备igbt测试仪
普赛斯功率模块igbt测试设备igbt测试仪，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级J确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容，如面议2024-12-16 -
半导体芯片测试设备IV曲线扫描仪器
众所周知，半导体芯片测试设备IV曲线扫描仪器应用的专业领域十分广泛，分别有：微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等... 数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几面议2024-12-16 -
功率半导体测试平台功率器件测试设备
普赛斯功率半导体测试平台功率器件测试设备特点和优势： 单台Z大3500V输出； 单台Z大1000A输出，可并联后Z大4000A； 15us的超快电流上升沿； 同步测量； 国标全指标的自动化测试； 可定制夹具； nA级电流和uΩ级电阻测量； 测试项目 集电极-发射极电压Vces，集电面议2024-12-16 -
压力传感器测试仪
通常，压力传感器Ⅳ特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且，使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的面议2024-12-16
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