半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪

半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪特点：

30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；

测量精度高,全量程下可达0.03%精度；


内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；


自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；

提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；

免费提供上位机软件及SCPI指令集；详询一八一四零六六三四七六；


典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；


二极管；


MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；


第三代半导体材料/器件；


有机OFET器件；


LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；